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Tel: +52 477 645 47 11
email: sales@nanometrix.us
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El Profilm3D utiliza la más moderna interferometría de luz blanca (WLI) combinado con interferometría de desplazamiento de fase de alta precisión (PSI). Esto proporciona acceso a la topografía de la superficie desde un subnanómetro hasta una escala milimétrica.
Capacidad de análisis:
Filtro de corte de rugosidad y ondulación, Filtrado espectral y FFT, Calculo de volumen, Múltiples técnicas de altura de paso: línea, rectángulo e histograma.
Película de proceso
Mediciones de
un solo punto
Mediciones de
un solo punto
Mediciones de
mapeo
multipunto
